XC-100L是一种袖珍型便携式的显微测量仪器，对粉末颗粒，表面凹坑、划痕、断层、涂面厚度等在线质控检测之用。广泛应用于轻工、机械、电子、印刷及表面疵病质检和大面积晶体检测。
仪器主要技术规格
规格：
1.目镜：
目镜放大率：10倍
目镜测微尺：0-10毫米 最小分度值：0.1毫米
2. 物镜：
物镜放大率：10倍
测量范围： 1毫米
测量精确度：±0.01毫米
3.系统放大率： 100倍
成套性：
1.测微目镜10倍： 1只
2.物镜10倍： 1只
3.调焦镜架组： 1只
4.电池筒： 1只
总放大率＝物镜倍率×大物镜倍率×目镜倍率。
选配件：
1.CCD摄配镜(实例：数码配套应用图)
2.300万像素摄像头(实例：数码配套应用图)
3.数码相机(Nikon,Canon)
4.数码相机专用摄配镜
5.C1显微镜测微尺(最小格值0.01mm)
